微著AI研究团队长期深耕于人工智能领域，专注于构建高效、强大的AI模型，旨在优化大规模机器学习数据的处理与管理。通过与公司视觉团队的紧密协作，结合自身深厚的技术底蕴，成功打造了一系列覆盖SMT行业绝大多数缺陷类型的自主AI模型。

通过数百家企业的检测经验积累，微著自研的AI模型正展现出其越发强大的性能，能够快速、精准地识别出各类主流缺陷，从细微瑕疵到显著异常，无一疏漏。

相对于传统2DA0I主要依靠算法逐图处理，逐一识别的运算机制，Isee系列凭借自主AI模型的强大判别能力，能够处理海量图像输入，并批量输出检测结果，大大提升检测效率，大幅缩短检测用时。与此同时，基于微著自主AI模型的海量数据支持，Isee系列设备能够高效且精准地识别出各类主流缺陷，这一技术突破不仅极大地提升了产品质量的检测效率，更为实现产品零缺陷的宏伟目标奠定了坚实的基础。

Isee全系内置基于AI驱动的智能编程系统，兼容多款坐标文件，让零基础人员也能迅速学会编程，轻松调整和设置参数，最快1分钟便可实现换型编程，高效匹配产线节奏。

Isee系列设备，在优良的装配工艺与严格的装配要求基础上，搭载特有的算法与功能，显著降低设备间差异，进而可实现同一算法程序多机通用，极大增加算法程序的可复制性与可拓展性。配合自研校准系统，Isee可轻松实现所有入厂设备的一致运作，确保所有检测标准与结果的高度统一。

Isee2DA0I最小可检测公制0201(7um)|公制0603(12um/15um)的微小元器件。基于自主研发的2D成像技术，结合成熟可靠的传统检测算法以及新兴的人工智能(AI)算法，Isee直击当前A0I检测行业的痛点，带来更为惊艳的检测结果!

回流焊后，基板的弯曲变形会给AOI带来检测稳定性方面的挑战。Isee通过针对性的软硬件方案设计，可轻松应对这一难题，保证检测结果一致性。